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3D闪存存储器件可靠性模型与纠错码技术

1. 建立通用的高精度 3D 闪存器件可靠性模型基于多种 3D 闪存芯片的测试数据集，采用机器学习方法，将 3D 闪存器件中存在的多维噪音干扰和多层结构差异因素作为输入，建立通用的高精度 3D 闪存器件可靠性模型。首先，采取适用于拟合光滑曲线的浅层神经网络，建立闪存单元阈值电压分布模型。该模型能够提供更精准的纠错码译

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技术成熟度: 成熟度待评估
所在地: 武汉